Thick8000型X射線膜厚測試儀

產品介紹

x射線膜厚測試儀是一款快速、無損、的電鍍城厚度測試儀器，主要用在鍍鋅（Zn）、鍍鎳(Ni)、鍍錫(Sn)、鍍金(Au)、鍍銀(Ag)等金屬鍍層厚度測測試，薄可測試0.005μm，為企業嚴格控制產品質量，防止鍍的過厚（增加產品成本）或者過薄（產品不合格）帶來的損失，天瑞儀器Thick8000x射線膜厚測試儀是新研發生產的一款x射線膜厚測試儀器，精密的三維移動平臺和高清攝像頭滿足了微小產品的測試，產品在行業內得到了廣泛的應用和認可，打破了國外壟斷的局面。

技術指標

X射線激發源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測器及分辨率：SDD探測器，分辨率140±5eV
定位精度：0.001mm
測量時間：10s及以上
樣品平臺移動范圍：120mm×120mm
樣品腔升降平臺移動高度：0～150mm

硬件

主機壹臺，含下列主要部件： 
(1)微焦斑X光管                 
(2)大面積SDD電制冷半導體探測器
(3)數字多道分析器
(4)超高精度三維移動平臺
(5)全景和局部兩個工業高清攝像頭
(6)高低壓電源
(7)激光定位裝置及圖像自動對焦技術
(8)開放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩
(9)電動調節準直器
(10)防撞激光保護器

資料：儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。

標準附件
準直孔：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種（已內置于儀器中）