鍍層測(cè)厚儀采用X射線熒光的工作原理是，X 射線管產(chǎn)生初級(jí)射線照射在受檢物質(zhì)時(shí)，會(huì)激發(fā)物質(zhì)放射X－射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號(hào)，接收器便會(huì)記錄這些能量光譜。不需要先對(duì)樣品進(jìn)行處理便能測(cè)量，樣品可直接放入測(cè)量室進(jìn)行測(cè)量。鍍層測(cè)厚儀由于可測(cè)量的元素范圍從鋁至鈾，X射線的應(yīng)用范圍從工業(yè)應(yīng)用伸展到科學(xué)應(yīng)用。鍍層測(cè)厚儀可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測(cè)量方面。

　　鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理：

　　鍍層測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。鍍層測(cè)厚儀也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。

　　用鍍層測(cè)厚儀時(shí)，測(cè)量準(zhǔn)確需具備什么條件?具體如下：

　　1.基體金屬特性

　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　2.基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　3.表面清潔度。鍍層測(cè)厚儀測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

　　4.邊緣效應(yīng)。不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　5.曲率。不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

　　6.讀數(shù)次數(shù)。通常由于鍍層測(cè)厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。